Element Analyses

Intertek heeft uitgebreide kennis en expertise op het gebied van element analyses. Onze experts beschikken over een breed scala aan apparatuur voor onder andere de onderstaande element analyses:

• ICP-OES (Inductively Coupled Plasma - Optical Emission Spectroscopy)
• ICP (-MS) (Inductively Coupled Plasma - Mass Spectrometry)
• GFAAS (Graphite Atomic Absorption Spectroscopy)
• FAAS (Flame Atomic Absorption Spectroscopy)
• Hydride-systeem voor vluchtige metalen
• Kwikanalyses m.b.v. Cold Vapor
• XRF (X-Ray Fluorescence)
• CHN- elementanalyser
• Voorbewerkingstechnieken - verassing / smelt / magnetron destructie en meer!

Analyses kunnen uitgevoerd worden binnen een breed concentratiegebied (van procent tot laag ppb niveau) in een groot aantal monstermatrices zoals: grondstoffen, procesvloeistoffen, metalen, katalysatoren, filters, deposities, brandstoffen, afvalstromen, kunststoffen / polymeren, vezels, verpakkingsmaterialen, voedselsimulanten, pharmaceuticals, residuen en meer!

Voorbeelden van toepassingen zijn:

• Analyse van zware metalen in grondstoffen en eindproducten.
• Kwantitatieve scans ten behoeve van identificatie elementen.
• Bepaling samenstelling van materialen.
• Sporenonderzoek metalen ten behoeven van onder andere kwaliteitsbepalingen.
• Analyse van afvalwaters, oppervlakte waters en grondwaters.
• Additieven/katalysatorresiduen in kunststoffen.
• Analyse van siliciumhoudende materialen door middel van waterstof fluoride digestion.
• Niet destructieve analyses van additieven, vulstoffen en katalysator residuen in polymeren met behulp van XRF.
• Niet destructieve kwalitatieve analyse in een breed scala aan materiaalvormen (onder andere films, plaatjes, poeders, granules, vezels)
• Specifieke migratietesten van anorganische elementen in voedselsimulanten.